(资料图)
作者：ADI公司 Marie-Eve Carré
简介
此KWIK（技术诀窍与综合知识）电路应用笔记提供了解决特定设计挑战的分步指南。对于给定的一组应用电路要求，本文说明了如何利用通用公式应对这些要求，并使它们轻松扩展到其他类似的应用规格。
在任何采样系统中，例如涉及ADC的测量系统中，有一种称为混叠的现象，它可能导致处于较高频带的信号“向下折叠”到奈奎斯特频带，使其与目标信号无法区分。奈奎斯特频率是采样速率fs的一半。由ADC采样的电路带宽应小于采样速率的一半。混叠会导致干扰信号和噪声污染输出，从而影响测量精度。图1和图2分别显示了正确采样（高采样速率）和不正确采样（低采样速率）的例子。
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